標準解讀

GB/T 12085.13-1989 是一項中國國家標準，專注于光學和光學儀器在特定環(huán)境條件下的試驗方法。該標準詳細規(guī)定了對光學儀器進行沖擊、碰撞或自由跌落試驗以及高溫、低溫試驗的具體要求和程序，以評估這些設備在惡劣環(huán)境下仍能保持其性能穩(wěn)定性的能力。下面是標準內容的概述：

1. 適用范圍

本標準適用于各類光學儀器，包括但不限于相機、望遠鏡、顯微鏡、激光設備等，在設計、生產和使用過程中需要驗證其對外部物理沖擊、碰撞及自由跌落的抵抗能力，以及在極端溫度條件下的工作穩(wěn)定性和可靠性。

2. 試驗條件與方法

2.1 沖擊、碰撞與自由跌落試驗

  • 目的：模擬儀器在運輸、操作或使用中可能遇到的意外沖擊或跌落情況，檢驗其結構強度和耐久性。
  • 試驗設備：需使用專業(yè)的沖擊試驗機、跌落試驗臺等，確保試驗過程可控且可重復。
  • 試驗程序：包括確定合適的沖擊能量、跌落高度及角度，以及選擇合適的碰撞介質（如硬木、橡膠等），根據儀器的預期使用環(huán)境和條件設定試驗參數。
  • 評價標準：檢查儀器在試驗后的功能完整性、光學性能變化及外觀損壞情況。

2.2 高溫、低溫試驗

  • 目的：評估光學儀器在極端溫度條件下的適應性和功能穩(wěn)定性。
  • 試驗條件：定義了具體的高溫和低溫測試范圍，通常涵蓋儀器可能遭遇的最極端環(huán)境溫度。
  • 試驗步驟：將儀器置于預設溫度的恒溫箱中，保持一段時間后，檢查其功能狀態(tài)和性能指標。
  • 恢復試驗：在極端溫度暴露后，還需進行恢復試驗，觀察儀器是否能在正常工作溫度下恢復到初始性能水平。

3. 試驗報告

標準要求詳細的試驗記錄和報告，包括試驗條件、方法、觀察結果及結論。這有助于制造商評估產品性能，改進設計，并為用戶提供關于設備可靠性的信息。

4. 標準遵循

執(zhí)行此標準的目的是確保光學儀器在實際應用中能夠承受一定的外界物理沖擊和廣泛的溫度變化，保障其長期穩(wěn)定運行和用戶的安全。各制造商和檢測機構應依據此標準實施相應的環(huán)境試驗，以驗證產品的環(huán)境適應性和可靠性。


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  • 被代替
  • 已被新標準代替，建議下載現行標準GB/T 12085.13-2010
  • 1989-12-29 頒布
  • 1990-08-01 實施
?正版授權
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GB/T 12085.13-1989光學和光學儀器環(huán)境試驗方法沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫-免費下載試讀頁

文檔簡介

UDC681.7.08N30中華人民共和國國家標準GB12085.13-89光學和光學儀器環(huán)境試驗方法沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫Opticsandopticalinstruments--Environmentaltestmethods-Shock.bumporfreefall.dryheat.cold1989-12-29發(fā)布1990-08-01實施國家技術監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標準光學和光學儀器環(huán)境試驗方法沖擊、碰撞或自由跌落與高溫低溫GB12085：13-89Opticsandopticalinstruments-Enyironmentaltestmethods-Shock.bumporfreefall,dryheat,cold1主題內容與適用范圍本標準規(guī)定了綜合沖擊、碰撞或自由跌落與高溫或低溫試驗的試驗條件、條件試驗、、試驗程序及環(huán)境試驗標記。本標準適用于光學儀器、裝有光學零部件的儀器和光學零部件。2試驗目的研究試樣經綜合沖擊、碰撞或自由跌落與高溫或低溫試驗后在光學、熱學、力學、化學和電學性能方面所受影響的變化程度。3引用標準GB12085.2光學和光學儀器環(huán)境試驗方法、低溫、高溫、濕熱GB12085.3光學和光學儀器環(huán)境試驗方法機械作用力GB2423.5電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程Ea；沖擊試驗方法GB2423.6電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程Eb：碰撞試驗方法GB2423.10，電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程F：振動（正弦）試驗方法GB2423.15，電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程Ga；恒加速度試驗方法試驗條件試樣在綜合機械作用力條件下的試驗要比前述的任-一種環(huán)境條件試驗更嚴酷，試樣的夾具應隔熱，若試樣裝在緩沖器上，則應考慮緩沖器元件恒溫的時間。5條件試驗本標準采用的目由落體加速度9為9.81m/s"。試樣各部分溫度達到試驗箱（室）溫度±3℃以內才開始進行試驗5.1條件試驗方法64：綜合沖擊與高溫條件試驗方法64綜合沖擊與高溫

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