CN116416190B 瑕疵檢測方法及裝置、電子設備及存儲介質 （鴻海精密工業股份有限公司）

像素差值生成所述測試樣本圖像的多個特征連2基于所述測試樣本圖像中的像素點，確定在所述多張正樣本圖像根據所述色差閾值及所述像素差值生成所述測試樣本圖像的多個特征根據每個特征連通區域中像素點的數量及所述第一閾值，從所述多根據所述目標區域的面積及所述第二閾值，確定所述測試樣本將所述色差值作為橫坐標，及將所述色差值對應的像素點數量作為根據預設值從所述色差直方圖的坐標值中選取多個連續色差值，從所述目標色差值集合中篩選出最大色差值作為所述色將除所述目標色差值集合外的特征集合確定為多個背從所述多張正樣本圖像中篩選與所述多個背景色差值集合中的色差值對應的像素點將小于或者等于所述色差閾值的像素差值確定為背景差值，從所將大于所述色差閾值的像素差值確定為目標差值，從所述測試3將大于所述第一閾值的第一數量所對應的特征連通區域確定為所述獲取每張負樣本圖像的每個像素點的第一像素值，并獲取將小于或者等于所述色差閾值的負樣本差值確定為特征差值，將大于所述色差閾值的負樣本差值確定為瑕疵差值，從所述多張負樣若所述第二瑕疵面積小于或者等于所述第二閾值，將所述檢測結果確定為無瑕疵樣確定單元，用于基于所述測試樣本圖像中的像素點，確定在所所述生成單元，還用于根據所述色差閾值及所述像素差值生成所述測篩選單元，用于根據每個特征連通區域中像素點的數量所述確定單元，還用于根據所述目標區域的面積及所述第二閾值處理器，執行所述至少一個指令以實現如權利要求1至7中任意一項所述瑕疵檢測方45[0014]將任意兩張正樣本圖像中對應的像素點的像素值進行相減運算處理，得到色差6[0023]從所述多張正樣本圖像中篩選與所述多個背景色差值集合中的色差值對應的像[0041]根據所述目標區域中的所有像素點計算所述目標區域的面積，得到第二瑕疵面78[0078]在本申請的至少一個實施例中，所述電子設備基于所述測試樣本圖像中的像素[0079]所述電子設備獲取所述測試樣本圖像中的像素點對應的9[0083]所述電子設備將任意兩張正樣本圖像中對應的像素點的像素值進行相減運算處所述電子設備將所述色差值作為橫坐標，及將所述色差值對應的像素點數量作為縱坐標，[0092]S13，根據所述色差閾值及所述像素差值生成所述測試樣本圖像的多個特征連通[0103]所述電子設備將除所述目標色差值集合外的特征集合確定為多個背景色差值集所述電子設備將所述第一數量大于所述第一閾值所對應的特征連通區域確定為目[0132]所述獲取單元110控制所述攝像裝置以相同的位置和角度拍攝多個正樣本、負樣[0133]確定單元111基于所述測試樣本圖像中的像素點，確定在所述多張正樣本圖像中[0135]在本申請的至少一個實施例中，所述確定單元111基于所述測試樣本圖像中的像[0136]所述確定單元111獲取所述測試樣本圖像中的像素點對應的像素值作為第一像素[0139]在本申請的至少一個實施例中，所述生成單元112根據所述多張正樣本圖像生成[0140]所述生成單元112將任意兩張正樣本圖像中對應的像素點的像素值進行相減運算[0141]所述生成單元112統計每個特征集合中的元素數量，將所述元素數量最大的特征[0149]所述生成單元112根據所述色差閾值及所述像素差值生成所述測試樣本圖像的多[0151]在本申請的至少一個實施例中，所述生成單元112根據所述色差閾值及所述像素[0152]所述生成單元112將大于所述色差閾值的像素差值確定為目標差值，從所述測試樣本圖像中篩選與所述目標差值對應的像素點作為目標像素點。所述生成單元112根據相[0159]在本申請的至少一個實施例中，所述生成單元112根據所述多張正樣本圖像的圖[0160]所述生成單元112將除所述目標色差值集合外的特征集合確定為多個背景色差值[0163]篩選單元113根據每個特征連通區域中像素點的數量及所述第一閾值，從所述多[0165]在本申請的至少一個實施例中，所述篩選單元113根據每個特征連通區域中像素地，所述篩選單元113將所述第一數量大于所述第一閾值所對應的特征連通區域確定為目[0170]在本申請的至少一個實施例中，所述生成單元112根據所述多張負樣本圖像的瑕[0171]所述生成單元112獲取每張負樣本圖像的第三像素值，并獲取每張正樣本圖像的所述生成單元112將小于或者等于所述色差閾值的負樣本差值確定為特征差值，從所述多述生成單元112將所述第二數量大于所述第一閾值所對應的第二連通區域確定為瑕疵區[0177]所述確定單元111根據所述目標區域的面積及所述第二閾值，確定所述測試樣本[0179]在本申請的至少一個實施例中，所述確定單元111根據所述目標區域的面積及所[0180]所述確定單元111根據所述目標區域中的所有像素點計算所述目標區域的面積，以及存儲在所述存儲器12中并可在所述處理器13上運行的計算機程序，例如瑕疵檢測程立硬件組件等。通用處理器可以是微處理器或者該處理器也可以是任何常規的處理器等，所述處理器13是所述電子設備1的運算核心和控制中心，利用各種接口和線路連接整個電[0187]所述處理器13獲取所述電子設備1的操作系統以及安裝的各類應用程序。所述處理器13獲取所述應用程序以實現上述各個瑕疵檢測方法實施例中的步驟，例如圖2所示的或多個模塊/單元可以是能夠完成特定功能的一系列計算機程序指令段，該指令段用于描[0189]所述存儲器12可用于存儲所述計算機程序和/或模塊，所述處理器13通過運行或實現所述電子設備1的各種功能。所述存儲器12可主要包括存儲程序區和存儲數據區，其[0191]所述電子設備1集成的模塊/單元如果以軟件功能單元的形式實現并作為獨立的現上述實施例方法中的全部或部分流程，也可以通過計算機程序來指令相關的硬件來完[0194]具體地，所