GB/T 19500-2004X射線光電子能譜分析方法通則

ICS17.180.30N33中華人民共和國國家標準GB/T：19500-)—2004X射線光電子能譜分析方法通則GeneralrulesforX-rayphotoelectronspectroscopicanalysismethod2004-04-30發(fā)布2004-12-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布中國國家標準化管理委員會

GB/T19500-2004三次前言范圍2規(guī)范性引用文件3術(shù)語和定義方法原理45儀器6洋品分析步驛8分析結(jié)果的表述

GB/T19500一2004前本標準提出單位：全國微束分析標準化委員會本標準歸口單位：全國微束分析標準化委員會。本標準負責(zé)起草單位：北京大學(xué)化學(xué)與分子工程學(xué)院。本標準主要起草人：黃惠忠。本標準參加起草人：曹立禮、趙良仲、王亦曼、吳文輝、沈電洪、朱永法、劉」芬、于廣華、吳正龍

GB/T19500—2004X射線光電子能譜分析方法通則范范圍本標準規(guī)定了X射線光電子能譜（XPS.X-rayPhotoelectronSpectroscopy或ESCA.ElectronSpeetroscopyforChemicalAnalysis)的一般表面分析方法以及相關(guān)的表面化學(xué)分析術(shù)語的含義.適用于X射線光電子能譜儀。規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單（不包括劫誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標準,然而，鼓勵根據(jù)本標準達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本適用于本標準。JJG013-—1996電子能譜計量檢定規(guī)程3術(shù)語和定義下列術(shù)語和定義適用于本標準定量分析quantitativeanalysis對樣品中被分析物數(shù)量的確定。住1：分析物可以是天然的元素或化合物。住2數(shù)量可表示為原子或質(zhì)量百分數(shù)、原子或質(zhì)量分數(shù)、每單位體積的摩爾或質(zhì)量、每單位面積的(原子)數(shù)、每單位體積的（原子)數(shù)或按要求所設(shè)。注3:樣品材料可能是非均勾的,因此在解釋中要應(yīng)用特定的模型結(jié)構(gòu),并且需說明該模型的細節(jié)3.2電子減速在電子能量分析器前或分析器內(nèi)使電子運動速度降低后測定動能分布的方法3.3峰-本底比peak-to-backgroundratio本底強度以上峰的最大高度與本底高度之比注：需給出測定本底的方法。3.4峰寬或線寬peakwidthorlinewidth在峰高度某個確定的分數(shù)處的峰的寬度住1:應(yīng)說明所用的扣除本底方法。注2:最通用的峰寬測量是取在最大峰高一半處峰的寬度注3:對不對稱峰而言，簡便的測量是取在峰的每側(cè)最大強度一半處的寬度.3.5飛離角take-orfangle光電子在其離開固體表面時的軌跡和該處或平