標準解讀
《YS/T 986-2014 晶片正面系列字母數字標志規范》是一項針對半導體晶片上所使用標志進行標準化的規定,其主要目的是確保晶片上的標識能夠清晰、準確地傳達必要的信息。根據該標準,對于在晶片正面上使用的字母數字標志有具體的要求,包括但不限于標志的內容、位置、大小以及字體樣式等方面。
- 標志內容:指定了哪些信息是必須包含的,比如批次號、生產日期等關鍵數據。
- 位置與布局:明確了這些標志應當放置于晶片的具體哪個部位,以保證不影響晶片的功能性同時便于讀取。
- 尺寸規格:對字母數字的高度和寬度給出了限定范圍,確保即使是在小型化的晶片上也能保持良好的可讀性。
- 字體風格:推薦或要求采用特定類型的字體,如無襯線字體(sans-serif),以提高標志的清晰度和辨識度。
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....
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- 現行
- 正在執行有效
- 2014-10-14 頒布
- 2015-04-01 實施
文檔簡介
ICS29045
H80.
中華人民共和國有色金屬行業標準
YS/T986—2014
晶片正面系列字母數字標志規范
Specificationforserialalphanumericmarkingofthefrontsurfaceofwafers
2014-10-14發布2015-04-01實施
中華人民共和國工業和信息化部發布
YS/T986—2014
前言
本標準按照給出的規則起草
GB/T1.1—2009。
本標準使用翻譯法等同采用晶片正面系列字母數字標志規范
SEMIM12-0706《》。
本標準由全國有色金屬標準化技術委員會歸口
(SAC/TC243)。
本標準起草單位有研半導體材料股份有限公司杭州海納半導體有限公司萬向硅峰電子股份有
:、、
限公司浙江金瑞泓科技股份有限公司
、。
本標準主要起草人張靜邊永智孫燕魯進軍樓春蘭王飛堯何良恩張海英
:、、、、、、、。
Ⅰ
YS/T986—2014
晶片正面系列字母數字標志規范
1目的
11本標準規定了硅片或其他半導體晶片上一串連續的包括字母和數字的標記該編號標記及關聯
.。
信息被儲存入數據庫對每個硅片起到了在硅片和器件制造期間追溯和控制的目的
,。
12本標準定義了晶片標記的基本編碼規定無需處理晶片利用簡單的自動光學字符識別設備就可
.。,
以對該標記進行獨立和快速人工識別確保了硅片制造商對晶片標記的一致性有利于監控晶片工藝的
,,
變化
。
13本標準適用于廣泛的晶片產品如外延片片拋光片等
.,、SOI、。
2范圍
本標準定義了標記包括字母數字的幾何尺寸和空間位置尤其適用于帶參考面和帶缺口的硅拋
,
光片
。
本標準不涉及制作標記的技術
。
3規范性引用文件
下列文件對于本文件的應用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件
。,()。
硅片字母數字標志規范
SEMIM13(Specificationforalphanumericmarkingofsiliconwafers)
供方標志代碼表
SEMIAUX001(Listofwaferssupplieridentificationcodes)
光學字符識別字符集概要
SEMIAUX015(OCR)(SEMIOCRcharacteroutlines)
4術語和定義
下列術語和定義適用于本文件
。
41
.
相鄰字符未對準度adjacentcharactermisalignment
R
adj
同一行兩個相鄰字符的字符基線之間的垂直距離
。
42
.
字符間隔characterseparation
任意兩個字符的相鄰邊界之間的水平距離
。
43
.
字符間距characterspacing
任意兩個相鄰字符的字符中心線之間的水平距離
。
44
.
字符窗口
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