CN113866584B 一種功率半導體器件功率循環測試電路和測試方法 （科威爾技術股份有限公司）_第1頁
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一種功率半導體器件功率循環測試電路和本發明公開了一種功率半導體器件功率循環測試電路和測試方法，包括至少一條測試支所述二極管的負極通過被測半導體器件后接所2所述加熱電流源的輸出端接所述電流旁路模塊，所述電流旁路模二極管D1的正極，所述二極管D1的負極通過被測半導體器件后接所述電流旁路模塊的負所述測試電流源的負極接所述被測半導體器件的一端，正極接所述二極管D4的正極，所述二極管D4的負極接所述被測半導體器件的功率半導體器件功率循環測試電路的測試方法為：每條測試支路開始功率循環測試數據采集模塊實時監測多個被測半導體器件的導通電壓以及加熱電流源2.根據權利要求1所述的一種采用功率半導體器件功率循環測試電路的測試方法，其3.根據權利要求1所述的一種采用功率半導體器件功率循環測試電路的測試方法，其4.根據權利要求1所述的一種采用功率半導體器件功率循環測試電路的測試方法，其5.根據權利要求1所述的一種采用功率半導體器件功率循環測試電路的測試方法，其6.根據權利要求1所述的一種采用功率半導體器件功率循環測試電路的測試方法，其7.根據權利要求6所述的一種采用功率半導體器件功率循環測試電路的測試方法，其8.根據權利要求1所述的一種采用功率半導體器件功率循環測試電路的測試方法，其3[0002]功率循環測試設備既可以對包括混合動力汽車及電動汽車和列車在內的汽車和[0003]公開號為CN108646163A的中國發明專利申請公開了一種半導體器件的功率循環[0005]本發明所要解決的技術問題在于：解決測試電路中直流所述二極管的正極，所述二極管的負極通過被測半導體器件后接所述電流旁路模塊的負[0010]所述測試電流源的負極接所述被測半導體器件的一端，正極接所述二極管的正4循環測試時，加熱電流源輸出預設的電流流過二極管對多個被測半導體器件施加負載電[0024](2)本發明通過采用多只并聯的場效應管替代IGBT模塊作為輔助測試電路，達到[0025](3)本發明采用多支路測試結構，可擴展測試容量，提高測試效率和測試的靈活5路2和第三測試支路3均采用相同的電路結構，因此本實施例主要對第一測試支路1進行詳[0036]同時多只場效應管并聯的方式相比IGBT模塊作為輔助測試電流具有導通損耗低、[0039]數據采集模塊U5有多通道高速高精度差分信號采集端口，實時監測被測件DUT1、6[0041]第一測試支路1開始功率循環測試時，加熱電流源P1輸出預設的電流流過二極管[0045]同理第二測試支路2中，加熱電流源P2通過電流旁路模塊U2和二極管D2為DUT5、半導體器件連接；柵極電源模塊U4的四路獨立的柵極電壓控制這四個半導體器件的通斷；數據采集模塊U5監測第二測試支路2的電流及四采集模塊U5監測第三測試支路

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