（正式版）DB34∕T 3368.1-2019 《印制電路板中有害物質分析方法 第1部分：鉛、汞、鉻、鎘和溴的快速篩選X射線熒光光譜法》_第1頁
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2019-08-01實施2019-08-01實施——第2部分：鹵素(氯和溴)的測定離子色譜法；本部分為第1部分。工1本部分適用于印制電路板中有害物質鉛、汞、鉻、鎘、溴的快速篩選，其中所測定的鉻、溴是指樣品中的總鉻、總溴。熒光光譜，根據其特征譜線(能量或波長)進行分析。4.1X射線熒光光譜儀。5試劑僅供學習交流使用，請勿傳播或其他用途5.2硼酸：分析純(105℃烘1h,置于干燥器內儲存)。將印制電路板剪切成小于10mmx10mm的方塊(塊數能滿足2cm3體積的要求),經液氮冷卻后，用粉碎機粉碎成粒徑小于0.5mm的粉末，混勻后。取體積約為2cm3的樣品粉末，用硼酸(5.2)襯2汞(Hg)鉻(Cr)7.4測定——X結果為不確定，需要按照本系列標準第2部分～第6部分的規定定量分析。請勿傳播或其他表2印制電路板中有害物質的篩選限值鉛P≤(500-3S)<X<(1500+3S)≤F汞P≤(500-3S)<X<(1500+3鉻溴鎘

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